Если вы первый раз на форуме, рекомендуем прочитать ПРАВИЛА ФОРУМА. Чтобы создавать свои сообщения или отвечать на форуме необходимо ЗАРЕГИСТРИРОВАТЬСЯ.
Тестер предназначен для диагностики целостности шлейфов интерфейса LVDS (30-40 pin) и eDP (30-40 pin) распространенных,стандартных матриц.
Позволяет выявить ненадежные контакты в поврежденных проводниках, методом механического воздействия на шлейф. Либо выявить проблему в случаях отсутствия изображения по причине обрывов. Также, тестер позволяет определить наличие коротких замыканий в шлейфе.
Подключается к шлейфу со стороны матрицы. Для диагностики обрывов, требуется подключение шлейфа к материнской плате ноутбука.
Проверка на наличие коротких замыканий осуществляется без подключения к МП.
При использовании тестера, материнская плата должна быть обесточена!
Питание тестера.
Включение автоматическое, при подключении шлейфа к любому из разъемов.
Питание осуществляется от Li-Ion аккумулятора. Для его подключения, с обратной стороны платы находятся площадки под пайку проводов.
Защита от обратной полярности не предусмотрена, будьте внимательны!
Если вы первый раз на форуме, рекомендуем прочитать ПРАВИЛА ФОРУМА. Чтобы создавать свои сообщения или отвечать на форуме необходимо ЗАРЕГИСТРИРОВАТЬСЯ.